Les stages de formation proposés en SFX (ED-XRF et WD-XRF)

Il est proposé 5 stages correspondant à trois objectifs différents. Les deux premiers (SFX-1 et SFX-2) s'adressent à un public de techniciens et d'ingénieurs pratiquant les méthodes, le 3ème (SFX-3) est destiné aux décideurs et chefs de projets cherchant les informations nécessaires pour un équipement ou une mise à niveau de leur service. Le stage 4 s'adresse à ceux qui souhaitent approfondir leur connaissance sur l'influence des facteurs instrumentaux et de la préparation des échantillons sur la qualité de leurs analyses. enfin, la cinquième session de stage est dédiée à la méthode dite "des couches minces".

SFX 1, Spectrométrie de fluorescence X niveau 1 du 19 au 23 mars et du 19 au 23 novembre 2018.
SFX 2, Spectrométrie de fluorescence X niveau 2 du 26 au 30 mars et du 26 au 30 novembre 2018.
SFX 3, Bien choisir son appareil de Fluorescence X en fonction des applications. les 14 & 15 mars et 05 & 06 décembre 2018.
SFX 4, Optimisation du réglage du spectromètre de fluorescence X et préparation de l'échantillon. mars et décembre 2018 à convenir.
SFX 5, Analyse des échantillons en couche mince et optimisation des réglages du spectromètre. date à convenir, par exemple mars ou décembre.

Interventions en intra-entreprise sur des points spécifiques, dates à convenir.


Contact: Jean-Paul Quisefit (jp_quisefit@yahoo.fr)


Contacts Jean Paul Quisefit (jp_quisefit@yahoo.fr).

Références bibliographiques: Steiner E., Optimisation de la préparation d'échantillon et des conditions d'analyse en spectrométrie de Fluorescence X avec WinProFX, Spectra Analyse, 188, 24-26, 1996

Résumé: WinProFX est un logiciel sous environement WindowsTM constitué d'une base de données spécifique à la fluorescence X et de fonctions de calculs spécialisées pour les utilisateurs de la spectrométrie de fluorescence X aussi bien dispersive en énergie qu'en longueur d'onde. Il intègre la base la plus complète des valeurs des niveaux d'énergie K, L et M, de toutes les raies de fluorescence ainsi qu'une compilation des tables de coefficient d'atténuation massique incluant tous les éléments, de l'hydrogène à l'uranium sur le domaine d'énergie variant de 0,01 à 60 keV. Ses fonctionnalités permettent de travailler sur les valeurs angulaires pour les appareils dispersif en longueur d'onde, sur les interférences spectrales ou l'analyse qualitative grâce au dépouillement aisé des spectres, sur les effets interéléments d'absorption ou de renforcement intervenant dans l'analyse quantitative, ainsi que sur les divers facteurs touchant à la préparation d'échantillon : effets de taille de grain, calcul d'épaisseur infinie. Il permet également de travailler sur la notion de filtre : identification d'un filtre (améliorateur) sélectif ou détermination du facteur d'amélioration en fonction de la nature et de l'épaisseur du filtre choisi.