Les stages de formation proposés en SFX (ED-XRF et WD-XRF)
Il est proposé de base 5 stages correspondant à trois objectifs différents. Les deux premiers (SFX-1 et SFX-2) s'adressent à un public de techniciens et d'ingénieurs pratiquant les méthodes, le 3ème (SFX-3) est destiné aux décideurs et chefs de projets cherchant les informations nécessaires pour l'acquisition d'un équipement ou une mise à niveau de leur service. Le stage 4 (SFX-4) s'adresse à ceux qui souhaitent approfondir leur connaissance sur l'influence des facteurs instrumentaux et de la préparation des échantillons sur la qualité de leurs analyses. Enfin, la cinquième session de stage (SFX-5) est dédiée spécifiquement à la méthode dite "des couches minces".
Les deux technologies, dispersion en énergie (EDXRF) et dispersion en longueur d'onde (WDXRF) sont évidemment traitées spécifiquement.
Logiciel spécialisé en spectrométrie de fluorescence X "WinProFX 5.3" : aide à la mise en place analytique, données atomiques fondamentales, conditions analytiques en WDXRF et EDXRF (angles d'analyse en fonction des cristaux analyseurs, recherche d'interférences potentielles), préparation des échantillons (création de matrices, calculs de pénétration ou de transmission, épaisseur infinie, granulométrie...,), effets inter-éléments, distributions spectrales et caractéristiques d'absorption des éléments... Télécharger la documentation complète dans l'onglet "Documentation". Pour acquisition du logiciel contacter l'association "
Dans le cadre de stage intra-entreprise, un programme "sur-mesure" peut être construit avec le demandeur incluant les spécificités des équipements utilisés par le site : durée et contenu définis et date à définir.
Les descriptifs des stages SFX 1 à SFX 5 sont des exemples de stages de type inter-entreprises effectués sur Paris.
| SFX 1, Spectrométrie de fluorescence X niveau 1 - les fondamentaux de la technique et instrumentation | 4 jours, dates à convenir. |
| SFX 2, Spectrométrie de fluorescence X niveau 2 - optimisation et analyse quantitative | 4 jours, dates à convenir. |
| SFX 3, Bien choisir son appareil de Fluorescence X en fonction des applications et besoins. | 2 jours, dates à convenir. |
| SFX 4, Optimisation du réglage du spectromètre de fluorescence X et préparation de l'échantillon. | durée et dates à convenir. |
| SFX 5, Analyse des échantillons en couches minces et optimisation des réglages du spectromètre. | durée et dates à convenir. |
En formation inter-entreprises, le programme est "standard" et c'est lors des discussions avec les différents stagiaires que le formateur s'adapte et répond aux spécificités de chaque stagiaire.
Dans le cadre d'un formation en intra-entreprise, le contenu est adaptée au besoin local, aux instruments utilisés par le demandeur et sur ses besoins analytiques spécifiques (éléments dosés, niveaux de concentration, type d'échantillon). Le programme est ainsi déterminé après une longue concertation avec le demandeur afin que le formateur opère avec un maximum d'efficacité. et adapte sa pédagogie au plus près des besoins pratiques du demandeur.
Cette adaptation est également effectuée si la formation se fait à distance par visio-conférence. Cette procédure a été optimisée depuis 2020 avec l'épisode "COVID" qui a nécessité une formation adaptée au contexte d'impossibilité en présentiel mais néanmoins le besoin de formation des entreprises. Là encore le programme détaillé est construit après de nombreux échanges avec le demandeur sur ses outils, ses besoins et le niveau des stagiaires.
Le formateur, J.P. QUISEFIT, professeur de l'Université Paris Cité (ex Paris 7 Denis DIDEROT) a une longue expérience en spectrométrie de fluorescence X. Il a soutenu sa thèse de troisième cycle en développant une méthode originale d'analyse des éléments traces par fluorescence X en 1978 et a publié 26 articles scientifiques sur la technique et communiqué près de 49 conférences ou conférences invitées également sur la technique. Son CV détaillé est consultable dans l'onglet accueil/encadrement.
Contact: Jean-Paul QUISEFIT (
- Logiciel expert de calcul de matrice en SFX (spectrométrie de fluorescence X) WinProFX 5.3. Ce logiciel est basé sur un travail publié par E. STEINER et développé sous Windows par E. STEINER & J.P. QUISEFIT.
- Logiciel d'intégration et de déconvolution de spectre IntegralFX dédié à la spectrométrie de fluorescence X dispersive en énergie (EDXRF) a été développé par R. LOSNO.
- Tables de LEROUX et THIN de coefficient massique d'absorption (version PDF ou fichier EXCEL).
Contacts Jean Paul QUISEFIT (
Références bibliographiques: Steiner E., Optimisation de la préparation d'échantillon et des conditions d'analyse en spectrométrie de Fluorescence X avec WinProFX, Spectra Analyse, 188, 24-26, 1996
Résumé: WinProFX est un logiciel sous environnement WindowsTM constitué d'une base de données spécifique à la fluorescence X et de fonctions de calculs spécialisées pour les utilisateurs de la spectrométrie de fluorescence X aussi bien dispersive en énergie qu'en longueur d'onde. Il intègre la base la plus complète des valeurs des niveaux d'énergie K, L et M, de toutes les raies de fluorescence ainsi qu'une compilation des tables de coefficients d'atténuation massiques incluant tous les éléments, de l'hydrogène à l'uranium sur le domaine d'énergie variant de 0,01 à 70 keV. L'utilisateur peut installer sa base de données des cristaux de BRAGG ou tester un nouveau cristal potentiel. Ses fonctionnalités permettent de travailler sur les valeurs angulaires pour les appareils dispersif en longueur d'onde, sur les interférences spectrales ou l'analyse qualitative grâce au dépouillement aisé des spectres. Il permet d'envisager les effets inter-éléments d'absorption ou de renforcement intervenants dans l'analyse quantitative, ainsi que sur les divers facteurs touchant à la préparation d'échantillon : calculs de pénétration de rayonnement ou de transmission par un matériau, calcul de taille de grain pour l'analyse sur poudre, calcul d'épaisseur infinie. Intégrant fondamentalement les tables de coefficients d'absorption massiques éditées par LEROUX et THIN, il permet de calculer les coefficients µ/r aussi bien pour des éléments que pour des matériaux complexes (appelés matrices) Les matrices, une fois documentées, peuvent être enregistrées pour usage ultérieur. Le logiciel permet également de travailler sur la notion de filtre : identification d'un filtre (améliorateur) sélectif ou détermination du facteur d'amélioration en fonction de la nature et de l'épaisseur du filtre choisi. Enfin les distributions spectrales des tubes à rayons X peuvent être modélisées pour toute tension appliquée et accompagnées des coefficients d'absorption élémentaires, permettant ainsi de simuler et de conclure sur les meilleures conditions d'excitation.
La description complète du logiciel est fournie dans l'onglet documentation et peut être acquis en en faisant la demande par mail (
Résumé : IntegralFX est un logiciel qui permet de traiter les acquisitions photoniques en énergie, pour les systèmes EDXRF, de faire l'identification des raies présentes et d'intégrer les pics en indiquant les valeurs des pic nets et des bruits de fond sous-jacents. Il fonctionnent avec les spectres acquis par tous les appareils du marché.